测量双向可控硅（SCR）的方法可以分为几个步骤，包括外观检查、引脚识别、触发特性测试、反向特性测试和导通特性测试。以下是详细的测量步骤：外观检查检查双向可控硅的外壳是否有明显的烧焦痕迹或裂纹。检查引脚是否弯曲或断裂。检查封装是否完好，没有裂纹或破损。引脚识别使用万用表的二极管测试功能，测量各引脚之间
2025-01-15 23:48:19
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